Модель образования морщин на прямоугольной мембране. Фото предоставлено: Измерение (2024 г.). DOI: 10.1016/j.measurement.2024.116123
Выход из-под земного притяжения требует огромного количества топлива и энергии. По этой причине грузоподъемность ракетных космических аппаратов ограничена и необходимо учитывать каждый грамм.
Чтобы уменьшить нагрузку, в качестве альтернативных материалов исследуются тонкие мембраны, но их природа как пластиковая оболочка приводит к образованию складок, что может повлиять на эксплуатационные характеристики. По этой причине существует необходимость в разработке измерительной технологии, позволяющей точно обнаруживать деформации.
Профессор Такаши Иваса из Высшей инженерной школы столичного университета Осаки возглавил команду по разработке метода измерения размера складок, образующихся на тонких мембранах, с использованием фотограмметрии и одной камеры. Результаты были опубликованы в журнале Measurement.
Изучая фотографии поверхности до и после воздействия на материал, можно определить амплитуду и длину морщин. На мембране напечатаны точки измерения, изменения положения которых дают информацию о деформациях.
Обнаружение изменений на поверхности тонкой мембраны космических аппаратов. Фото предоставлено: Столичный университет Осаки.
«Раньше требовалось несколько камер, но в этом исследовании размер морщин можно легко определить, применив теорию поля напряжений к результатам измерений фотограмметрии с одной камерой», — объяснил профессор Иваса.
«Мы проводим это исследование на больших тонкомембранных космических кораблях и ожидаем, что этот метод будет использоваться там, где ограничено пространство для установки камер».
Информация от: Столичным университетом Осаки.
